2.5次元产品是二次元测量仪基础上的升级版本，常规我们二次元都是对二维平面尺寸的产品检测，但在日常工业中不少客户单独二维平面尺寸的测量无法满足要求，还需要对产品台阶、深度的一个检测，而买一台三坐标又过于的昂贵，基于多方因素市场上研发出2.5D光学测量以满足相关客户的特殊需求：祥兴仪器公司推出的2.5次元分为两类产品，第一类是光学对焦测高型2.5次元测量仪，第二类是探针辅助测高型2.5次元，由于光学对焦测高对产品表面有很高要求目前一般客户采用的都是探针接触式测高2.5次元测量仪，客户可以根据自身产品特点选择最适合测量的相关产品。

主要特点

采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。

立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。

配备多功能2.5D测量软件，自动寻边,影像测高。

配备可移动可拆卸的仪器专用桌。

高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。

测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。

可导入DXF文件进行快速检测。

XVM-F2.5次元测量仪系列技术参数
型号	XVM-2010F	XVM-3020F	XVM-4030F
测量范围(mm)	200x100x200	300x200x200	400x300x200
外型尺寸(mm)	750*1300*1500mm	750*1300*1500mm	900*1400*1500mm
重量(kg)	160	170	250
承重(kg)	20	25	25

.客户可根据自身产品需求选配英国Renishaw MCP探针接触式测高功能

测量精度(μm): 3+L/200

重复精度（mm）:0.003

测量方式：影像

光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺

图像传感器CCD: HC536   1/3英寸600线工业彩色相机

导轨: Z轴：“HIWIN”P级直线导轨      X、 Y轴：精密V型导轨

光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒

放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X

软件: 手动2.5D测量软件

祥兴2.5次元测量仪，2.5D影像测量仪，2.5次元光学检测仪销售服务热线：15920690173,0769-89320284 黄经理